Krom katkılı HfO2 ince filmlerin fiziksel özelliklerinin incelenmesi
| dc.authorid | 0000-0001-7653-1877 | en_US |
| dc.contributor.advisor | Pakma, Osman | |
| dc.contributor.author | Arslan Akyüz, Hicran | |
| dc.date.accessioned | 2022-11-30T08:10:14Z | |
| dc.date.available | 2022-11-30T08:10:14Z | |
| dc.date.issued | 2021-06-23 | en_US |
| dc.date.submitted | 2021-06-23 | |
| dc.department | Batman Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Fizik Anabilim Dalı | en_US |
| dc.description.abstract | Bu tez çalışmasında, cam tutucu yüzeylere katkısız ve % 1, % 5, % 10 krom (Cr) katkılı HfO2 ince filmler sol-jel daldırma yöntemiyle elde edilmiştir. Elde edilen filmler bir saat 500 C’de tavlamaya bırakılmıştır. Tüm ince filmlerin kalınlıkları foto spektrometre yardımıyla ölçülmüştür. Kalınlıkları tespit edilmiş ince filmlerin yapısal ve optiksel özellikleri X-ışını kırınım deseni (XRD) ve UV-VIS spektrometresi incelenmiştir. Tüm analiz ve sonuçlar literatürde çeşitli yöntemlerle elde edilmiş HfO2 ince film sonuçlarıyla karşılaştırılmış ve katkılama oranının etkisi yorumlanmıştır. | en_US |
| dc.description.abstract | In this thesis, HfO2 thin films with additives of 1%, 5%, 10% chromium (Cr) were obtained by sol-gel dipping method on glass-holding surfaces. The films obtained were left to anneal at 500 ° C for one hour. The thicknesses of all thin films were measured with the aid of a photo spectrometer. Structural and optical properties of thin films with thickness determined X-ray diffraction pattern (XRD) and UV-VIS spectrometer were investigated. All analysis and results were compared with HfO2 thin film results obtained by various methods in the literature and the effect of doping ratio was interpreted. | en_US |
| dc.identifier.citation | Arslan Akyüz, H. (2021). Krom katkılı HfO2 ince filmlerin fiziksel özelliklerinin incelenmesi. (Yayınlanmamış Yüksek Lisans Tezi). Batman Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü, Batman. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.12402/4331 | |
| dc.language.iso | tr | en_US |
| dc.publisher | Batman Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü | en_US |
| dc.relation.publicationcategory | Tez | en_US |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | en_US |
| dc.subject | Hafniyum Oksit | en_US |
| dc.subject | İnce Film | en_US |
| dc.subject | Sol-Jel | en_US |
| dc.subject | UV-VIS | en_US |
| dc.subject | XRD | en_US |
| dc.subject | Thin Film | en_US |
| dc.subject | Hafnium Oxide | en_US |
| dc.subject | Sol-Gel | en_US |
| dc.subject | SEM | en_US |
| dc.title | Krom katkılı HfO2 ince filmlerin fiziksel özelliklerinin incelenmesi | en_US |
| dc.title.alternative | Investigation of physical properties of chromium doped HfO2 thin films | en_US |
| dc.type | Master Thesis | en_US |
