Filtreler

Filtreleri Sıfırla

Ayarlar

Bölüm: Batman Üniversitesi Fen - Edebiyat Fakültesi Fizik Bölümü × Erişim Hakkı: info:eu-repo/semantics/openAccess ×

Arama Sonuçları

Listeleniyor 1 - 10 / 29
  • Küçük Resim
    Öğe
    Temperature dependent electrical transport in Al/Poly(4-vinyl phenol)/ p -GaAs metal-oxide-semiconductor by sol-gel spin coating method
    (Hindawi, 2016-03-10) Özden, Şadan; Tozlu, Cem; Pakma, Osman
    Deposition of poly(4-vinyl phenol) insulator layer is carried out by applying the spin coating technique onto p-type GaAs substrate so as to create Al/poly(4-vinyl phenol)/p-GaAs metal-oxide-semiconductor (MOS) structure. Temperature was set to 80-320 K while the current-voltage (I-V) characteristics of the structure were examined in the study. Ideality factor (n) and barrier height (φ b) values found in the experiment ranged from 3.13 and 0.616 eV (320 K) to 11.56 and 0.147 eV (80 K). Comparing the thermionic field emission theory and thermionic emission theory, the temperature dependent ideality factor behavior displayed that thermionic field emission theory is more valid than the latter. The calculated tunneling energy was 96 meV.
  • Küçük Resim Yok
    Öğe
    Control of barrier heigth ofmetal/semiconductor contacts bymolecular organic film
    (2011-06) Güllü, Ömer; Turut, Abdulmecit; Kılıçoğlu, Tahsin; Özerden, Enise
  • Küçük Resim
    Öğe
    Batman ilindeki ince film a-Si teknolojili fotovoltaik sistemin performans değerlendirmesi
    (Balıkesir Üniversitesi, 2018-07-17) Pakma, Osman
    Bu çalışmada Batman ilinde ince film a-Si teknolojisine sahip 2.16 kWp güce sahip şebeke bağlantılı sistemin bir yıllık elektrik enerjisi üretim verileri alınmış ve modüllerin performansı dış parametrelerde göz önüne alınarak değerlendirilmiştir. Sistem ölçümleri Ocak ayından Aralık ayına kadar tüm 2016 yılını kapsamaktadır. İnce film a-Si PV sistemden 2016 yılı süresince şebekeye 2.631 MWh enerji sağlanmıştır. Sistemin nihai verimi (Yf) 1.13 den 4.89 kWh/KWp/gün’e, performans oranı da (PO) %53 ile %78 arasında değişmektedir. Ortam ve buna bağlı olarak modül sıcaklıklarının sistem performansına etkisinin %6 - %9 arasında olduğu hesaplanmıştır. Ayrıca diğer sistem bölümlerinin de sistem performansı üzerinde değişen oranlarda etkili olduğu belirlenmiştir.
  • Küçük Resim Yok
    Öğe
    Electronic properties of the Al/Orange G/n-Si junction
    (2017-04) Güllü, Ömer; Arsel, İsmail
  • Küçük Resim
    Öğe
    Sılar yöntemi kullanılarak pbo ince filminin üretimi ve pb/pbo/p-si mıs kontaklarının elektronik ve arayüzey özellikleri
    (Batman Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü, 2021-02-04) Erdem, Emine; Güllü, Ömer
    Son yıllarda, metal oksit ince filmler yoğun bir şekilde piezoelektrik, elektronik, optronik cihazlar ve fotovoltik hücrelerde kullanılmaktadır. Bu tez çalışmasında düşük maliyetli ve kontrolü oldukça kolay olan, SILAR ince film büyütme tekniği kullanılarak kurşun oksit (PbO) ince filmini mikroskop camı (lam) ve inorganik yarıiletken silisyum (Si) altlık üzerine büyütülmüştür. Kullanılan altlıklar uygun kimyasal temizleme işlemlerinden sonra SILAR tekniği ile kaplanmıştır. Kaplama işlemi çözeltiler 80℃’de tutularak yapılmıştır. Kaplama esnasında hem cam hem silisyum kristali (mat yüzey) 25 adımlık daldırma tur sayısı ile kaplanmıştır. Silisyum yarıiletkeni üzerine ince film oluşturduktan sonra üst yüzeyine (parlak yüzey) Pb iletkeni fiziksel buharlaştırma yöntemi (PVD) ile buharlaştırılarak kontak oluşturulmuştur. Cam üzerinde oluşturulan PbO ince filmin optik, morfolojik ve yapısal özellikleri, araştırılmıştır. Oluşturulan Pb/PbO/p-Si MIS Schottky diyotun elektriksel ve arayüzey özellikleri karanlık ortamda akım-gerilim (I-V), 10kHz-2MHz frekans aralığında kapasite-gerilim (C-V), kondüktans-gerilim (G-V) ve 1kHz-10MHz frekans aralığında kapasite-frekans (C-F) özellikleri incelenmiştir.
  • Küçük Resim Yok
    Öğe
    Organometalik mangan kompleks ince filminin bazı optik özellikleri ve fotovoltaik diyot uygulaması
    (Ubek Yayınevi, 2019-11) Güllü, Ömer; Özaydın, Cihat; Özaydın, Mizgin Tutşi
  • Küçük Resim
    Öğe
    Improvement of diode parameters in Al/n-Si schottky diodes with coronene interlayer using variation of the illumination intensity
    (Elsevier, 2017-12-15) Pakma, Osman; Çavdar, Şükrü; Koralay, Haluk; Tuğluoğlu, Nihat; Yüksel, Ömer Faruk
    In present work, Coronene thin films on Si wafer have been deposited by the spin coating method. It has been ultimately produced Al/Coronene/n-Si/In Schottky diode. Current–voltage (I-V) measurements have been used to determine the effect of illumination intensity in the Schottky diodes. The barrier height (ΦB) values increased as ideality factor (n) values decreased with a increase in illumination intensity. The ΦB values have been found to be 0.697 and 0.755 eV at dark and 100 mW/cm2, respectively. The n values have been found to be 2.81 and 2.07 at dark and 100 mW/cm2, respectively. Additionally, the series resistance (Rs) values from modified Norde method and interface state density (Nss) values using current-voltage measurements have been determined. The values of Rs have been found to be 1924 and 5094 Ω at dark and 100 mW/cm2, respectively. The values of Nss have been found to be 4.76 × 1012 and 3.15 × 1012 eV−1 cm−2 at dark and 100 mW/cm2, respectively. The diode parameters are improved by applying the variation of illumination intensity to the formed Schottky diodes.
  • Küçük Resim Yok
    Öğe
    Electrical characteristics of the Al/Congo Red (CR)/p-Si semiconductor diodes
    (Dumlupınar Üniversitesi, 2015-05) Güllü, Ömer; Pakma, Osman; Turut, Abdulmecit; Arsel, İsmail
    In this work, we have studied the electrical characteristics of the Al/CR/p-Si MIS Schottky structures formed by coating of the organic material directly on p-Si substrate. It has been seen that the CR thin film on the p-Si substrate has indicated a good rectifying behavior. The barrier height and the ideality factor of the device have been calculated from the I-V characteristic. We have also studied the suitability and possibility of the MIS diodes for use in barrier modification of Si MS diodes. In addition, we have compared the parameters of the Al/CR/p-Si MIS Schottky diodes with those of conventional Al/p-Si MS diodes. We have observed that the b value of 0.77 eV obtained for the Al/CR/p-Si device was significantly larger than BH value of the conventional Al/p-Si MS contact. Thus, the modification of the interfacial potential barrier for metal/Si diodes has been achieved by using the CR organic interlayer. This was attributed to the fact that the CR interlayer increased the effective b by influencing the space charge region of Si. The interface-state density of the MIS diode was found to vary from 1.24×1013 eV-1 cm-2 to 2.44×1012 eV-1 cm-2.
  • Küçük Resim
    Öğe
    On The Profile Of Frequency Dependent Series Resistance And Interface States In Al/TiO2/p-Si (MIS) Structures
    (Batman Üniversitesi, 2012) Arsel, İsmail
    Sol-gel yöntemiyle hazırlanan Al/TiO2/p-Si (MIS) yapıların iletkenlik-voltaj(G/ω-V) ve kapasitans-voltaj (C-V) karakteristiklerinin frekansa bağımlılığı oda sıcaklığında seri dirençler (Rs) ve arayüzey (Nss) durumlarına etkisi gözönüne alınarak incelenmiştir. Ölçülen kapasidans (C) ve iletkenkiğin (G/ω), frekansa ve öngerilime kuvvetle bağlı olduğu bulunmuştur. Ölçülen sığa (C) ve iletkenlik (G/ω) değerlerinin, dolma ve boşalma bölgelerinde frekansın artması ile azaldığı, Si/TiO2 arayüzeyinde Nss ölçülmüştür. Seri direnç-gerilim ( Rs-V), grafiğinde bir tepe noktası vardır ve tepe noktasının yeri, azalan frekansla birlikte ters bölgeye doğru kayar. Gerçek (MIS) kapasidans (C) ve iletkenlik (G/ω) değerlerini elde etmek amacıyla kapasidans-gerilim (C-V) ve iletkenlik-gerilim (G/ω-V) ölçümlerinin her ikisi ileri ve geri önyargılar altında seri dirençlerin etkisi için düzeltilmiştir. Frekansa bağlı kapasidans-gerilim (C-V) ve iletkenlik-gerilim (G/ω-V) ölçümleri son derece etkili elektriksel karakteristiklerin çok önemli iki parametresi MMS yapısında Rs ve Nss olduğunu gösterir.
  • Küçük Resim
    Öğe
    Photoelectric and photocapacitance characteristics of Au/pyrene/N-Si MIS structures
    (Journal of Non-Oxide Glasses, 2017-04-01) Güllü, Ömer; Pakma, Osman; Özaydın, Cihat; Arsel, İsmail; Turmuş, Mesut
    This paper presents in-depth analysis of the current-voltage (I-V) and capacitance-voltage (C-V) characteristics of identically prepared Au/Pyrene(C16H10)/n-Si hybrid organic-oninorganic semiconductor photovoltaic cells (total 43 diodes). The barrier heights, ideality factors and reverse bias saturation currents of all devices were extracted from the electrical characteristics. The mean barrier height, mean ideality factor and mean saturation current from I-V measurements were calculated as 0.79 ± 0.01 eV, 1.40 ± 0.08 and (1.01 ± 0.46)x10-8 A, respectively. Also, the photoelectric (I-V) and photocapacitance (C-V and conductance (G)-voltage (V)) characteristics of the Au/Pyrene/n-Si device under 100 mW/cm2 light illumination were investigated. It has been seen that the light illumination increases strongly the current, capacitance and conductance values of the device due to electron-hole charge pair generation. The C-V and G-V characteristics under illumination have shown a non-monotonic dependence of capacitance on frequency giving rise to a peak. This is attributed to the existence of electrically active traps. The open circuit voltage and short circuit current of the Au/Pyrene/n-Si device were extracted as 80 mV and 30 µA, respectively.